उच्च-स्तरीय AOI दृष्टि निरीक्षण प्रणालियों के लिए, समतलता एक साधारण फ़ैक्टरी स्वीकृति संकेतक से कहीं अधिक है। यह ऑप्टिकल पोजिशनिंग, छवि अधिग्रहण और आयामी माप के पूरे सेट के लिए अंतर्निहित बेंचमार्क के रूप में कार्य करता है। कई विज़न उपकरण निर्माताओं को असेंबली और कमीशनिंग के दौरान एक मुश्किल समस्या का सामना करना पड़ता है: फ़्लैटनेस पैरामीटर ड्राइंग पर विनिर्देशों को पूरा करते हैं, फिर भी पूरी मशीन असेंबली के बाद धीरे-धीरे छवि विरूपण और समन्वय अंशांकन का बार-बार बहाव होता है। मूल कारण आमतौर पर ऑप्टिकल सॉफ़्टवेयर या कैमरे में नहीं, बल्कि बेस लैपिंग प्रक्रियाओं में गुणवत्ता अंतर में होता है। साधारण पत्थर केवल स्वीकार्य स्थूल समतलता प्राप्त करता है, जबकि उच्च {{5}अंत एओआई एक पूर्ण {{6}क्षेत्र निरंतर, सूक्ष्म रूप से समान नैनोस्केल प्लानर बेंचमार्क की मांग करता है। यही मुख्य कारण है कि सटीक लैप्ड ग्रेनाइट बेस प्रीमियम विज़न उपकरणों के लिए मानक घटक बन जाते हैं।
1. परिशुद्धता लैपिंग: मैक्रो फ़्लैटनेस को पूर्ण क्षेत्र माइक्रो बेंचमार्क से अलग करना
पारंपरिक पत्थर प्रसंस्करण केवल बड़ी सतहों की स्थूल समतलता पर ध्यान केंद्रित करता है, मामूली स्थानीय उतार-चढ़ाव और लैपिंग तरंगों को नजरअंदाज करता है। यह सामान्य निरीक्षण उपकरणों के लिए स्वीकार्य हो सकता है, फिर भी एओआई विज़न सिस्टम पिक्सेल दर पिक्सेल छवियों को कैप्चर करता है। आधार सतह पर छोटी तरंगें ऑप्टिकल पथ विचलन में बदल जाती हैं, जिसके परिणामस्वरूप दृश्य क्षेत्र के भीतर विभिन्न क्षेत्रों में असंगत माप सटीकता होती है।
तीस से अधिक वर्षों के हैंड लैपिंग अनुभव और बड़े सीएनसी ग्राइंडर वाले कारीगरों द्वारा समर्थित, UNPARALLELED® काला ग्रेनाइट प्रगतिशील स्तरित सटीक लैपिंग को अपनाता है। मशीनिंग प्रक्रिया में केवल सतह को चिकना करना शामिल नहीं है, बल्कि स्थानीय लहरों और ऊंचाई के अंतर को खत्म करने के लिए पूरे पत्थर की सूक्ष्म स्थलाकृति को लगातार सही करना है। लैपिंग को अलग-अलग चरणों में सत्यापित किया जाता है, जो रफ ग्राइंडिंग और सेमी{3}फिनिश ग्राइंडिंग से नैनोस्केल अल्ट्रा{{4}प्रिसिजन लैपिंग में परिवर्तित होता है। आधार की पूरी कामकाजी सतह एक सतत और समान संदर्भ विमान बनाती है। यहां तक कि बड़े आकार के आधारों के लिए भी, दृष्टि उपकरणों की व्यापक रेंज स्कैनिंग और इमेजिंग को संतुष्ट करने और विभिन्न निरीक्षण क्षेत्रों में सटीकता अंतराल को रोकने के लिए लगातार पूर्ण क्षेत्र की समतलता बनाए रखी जा सकती है।
2. लैपिंग विरूपण रिबाउंड से बचने के लिए कच्चे माल और लैपिंग प्रक्रिया का तालमेल
कुछ निर्माता अप्रकाशित आंतरिक तनाव वाले पत्थर को अपनाते हैं। भले ही समतलता लैपिंग के ठीक बाद अस्थायी रूप से मानकों को पूरा करती है, लेकिन उपकरण के तापमान में वृद्धि और कंपन के संपर्क में आने के बाद संदर्भ तल धीरे-धीरे पलटता है और विकृत हो जाता है, जिससे समतलता में तेजी से गिरावट आती है। इस तरह के विरूपण प्रतिक्षेप का दृष्टि उपकरणों पर तुरंत पता लगाना कठिन है और धीरे-धीरे गलत निरीक्षण दर बढ़ जाएगी।
UNPARALLELED मूल आंतरिक तनाव को पूरी तरह से मुक्त करने के लिए ग्रेनाइट रिक्त स्थान पर दीर्घकालिक उम्र बढ़ने और स्थिर प्लेसमेंट करता है। मशीनिंग और लैपिंग को चरण दर चरण पूरा किया जाता है, जिसमें प्रत्येक कार्य प्रक्रिया के बीच स्थिरीकरण चक्र आरक्षित होते हैं। अंतिम अल्ट्रा सटीक लैपिंग चरण सब्सट्रेट के स्थिर स्थिति में पहुंचने के बाद ही शुरू होता है। लैपिंग के बाद, वर्कपीस को स्थिर रखा जाता है और स्थिर तापमान और शॉकप्रूफ वर्कशॉप में दोबारा मापा जाता है। यह फ़ैक्टरी निरीक्षण के लिए तभी आगे बढ़ेगा जब कोई फ़्लैटनेस रिबाउंड प्रवृत्ति की पुष्टि नहीं हो जाएगी। यह प्रक्रिया गारंटी देती है कि तैयार संदर्भ विमान लैपिंग के बाद स्थिर रहता है और लंबी अवधि के एओआई ऑपरेशन के दौरान कोई सपाटता पलटाव नहीं होता है, जो निरंतर दृष्टि निरीक्षण के बेंचमार्क की सुरक्षा करता है।
3. तैयार भागों के यादृच्छिक स्पॉट नमूने के बजाय, लैपिंग वर्कफ़्लो के दौरान मेट्रोलॉजी सत्यापन
विश्वसनीय समतलता मिलान सटीक निरीक्षण उपकरणों पर निर्भर करती है। कई प्रसंस्करण संयंत्र केवल सीमित माप बिंदुओं के साथ तैयार उत्पादों पर साधारण स्पॉट जांच करते हैं, काम की सतहों पर स्थानीय दोषों को पकड़ने में विफल रहते हैं। उच्च{{2}अंत एओआई आधारों के लिए पूर्ण {{3}क्षेत्रीय सत्यापन की आवश्यकता होती है, और लैपिंग के प्रत्येक चरण में मेट्रोलॉजी निरीक्षण शामिल होना चाहिए।
इस सिद्धांत का पालन करते हुए कि जिसे मापा नहीं जा सकता, उसका निर्माण नहीं किया जा सकता है, UNPARALLELED कामकाजी सतहों पर सूक्ष्म उतार-चढ़ाव को पकड़ने के लिए लैपिंग के दौरान निरंतर मल्टी-पॉइंट स्कैनिंग के लिए लेजर इंटरफेरोमीटर, स्विस वायलर इलेक्ट्रॉनिक स्तर और जर्मन माहर डायल गेज सहित विश्व स्तर के मेट्रोलॉजी उपकरणों का उपयोग करता है। सभी माप उपकरणों के पास वैध अंशांकन प्रमाणपत्र हैं, और माप मान राष्ट्रीय मेट्रोलॉजी संस्थानों में उपलब्ध हैं। फ़्लैटनेस को DIN, ASME और JIS जैसे वैश्विक सटीक मेट्रोलॉजी मानकों के अनुसार आंका जाता है। केवल एकल बिंदु रीडिंग पर ध्यान केंद्रित करने के बजाय, कामकाजी सतह के समग्र समोच्च का मूल्यांकन यह सुनिश्चित करने के लिए किया जाता है कि लैपिंग परिणाम प्रीमियम दृष्टि उपकरणों की उच्च परिशुद्धता समन्वय स्थिति को संतुष्ट करते हैं।
4. ऑप्टिकल मॉड्यूल की असेंबली के लिए अनुकूलित लैप्ड सतह की सूक्ष्म गुणवत्ता
एओआई बेस न केवल एक असर मंच के रूप में बल्कि ऑप्टिकल ब्रैकेट, रैखिक मोटर चरणों और प्रकाश स्रोत असेंबली के लिए एक साझा असेंबली बेंचमार्क के रूप में भी कार्य करता है। आधार सतह पर सूक्ष्म खरोंच, गड्ढे और कण उभार मॉड्यूल की फिटिंग को कमजोर करते हैं, असमान असेंबली अंतराल बनाते हैं और अप्रत्यक्ष रूप से ऑप्टिकल विचलन उत्पन्न करते हैं। नियमित लैपिंग से मशीनिंग बनावट निकल जाती है जिससे असेंबली के बाद घटक की फिटिंग खराब हो जाती है।
अल्ट्रा{{0}सटीक लैपिंग से कम खुरदरेपन के साथ घनी सतह मिलती है और सतह पर सूक्ष्म दोष कम हो जाते हैं। अद्वितीय ग्रेनाइट में घनी बनावट और कम सरंध्रता होती है। सटीक लैपिंग के बाद, कामकाजी सतह पर कोई ढीले कण नहीं होते हैं। ऑप्टिकल असेंबली और गति चरण असेंबली के दौरान संदर्भ विमान को बारीकी से फिट कर सकते हैं। असेंबली के लिए समान और स्थिर संपर्क सतह पूरे विज़न सिस्टम के एकीकृत माउंटिंग निर्देशांक को सुनिश्चित करती है, असेंबली द्वारा लाई गई अतिरिक्त त्रुटियों को काटती है, और उच्च परिशुद्धता छवि अधिग्रहण का समर्थन करने के लिए पूर्व निर्धारित सापेक्ष ऑप्टिकल स्थितियों पर कैमरों, गति चरणों और वर्कपीस को परीक्षण के तहत रखती है।
5. नए {{3}पीढ़ी व्यापी प्रारूप AOI की मांगों को पूरा करने के लिए बड़े आकार के आधारों के लिए पूर्ण {{1} क्षेत्र लैपिंग
नए {{0}पीढ़ी के उच्च{{1}अंत एओआई उपकरण में स्कैनिंग चौड़ाई का विस्तार करने की सुविधा है। बड़े आकार के आधारों के पूर्ण {{3}क्षेत्रीय समतलता को नियंत्रित करना तेजी से अधिक चुनौतीपूर्ण हो जाता है। बड़े पत्थर के वर्कपीस लैपिंग के दौरान दोनों सिरों पर मुड़ जाते हैं या बीच में धंस जाते हैं, जिससे पूरे पैनल में एक समान समतलता हासिल करना मुश्किल हो जाता है। स्प्लिस्ड बेस जोड़ों पर कदम की ऊंचाई से प्रभावित होते हैं, जो सीधे ऑप्टिकल बेंचमार्क को बर्बाद कर देते हैं।
बड़े अल्ट्रा {{0}सटीक ग्राइंडर और 20 {{2}मीटर सिंगल {{4}पीस मशीनिंग क्षमता के साथ, UNPARALLELED अखंड बड़े ग्रेनाइट बेस की एकीकृत लैपिंग का एहसास करता है और स्प्लिसिंग के कारण होने वाले बेंचमार्क दोषों को समाप्त करता है। लंबी वर्कपीस की सीधीता और समतलता को नियंत्रित करने के लिए लैपिंग के दौरान लंबी दूरी के समोच्च परिवर्तनों की वास्तविक समय में निगरानी की जाती है, जिससे बड़ी तालिकाओं के एक छोर से दूसरे छोर तक निरंतर और स्थिर बेंचमार्क सुनिश्चित होते हैं। यह विस्तृत प्रारूप पीसीबी और सेमीकंडक्टर पैकेजिंग निरीक्षण के लिए उपयुक्त है और बड़ी दूरी के स्कैनिंग परिदृश्यों के दौरान स्थिर प्लानर बेंचमार्क बनाए रखता है।
निष्कर्ष
उच्च-स्तरीय एओआई विज़न उपकरण के लिए, समतलता की आवश्यकताएं कागजी विशिष्टताओं को पूरा करने से कहीं अधिक होती हैं। उत्कृष्ट सूक्ष्म स्थलाकृति के साथ एक संपूर्ण क्षेत्र सतत, दीर्घावधि स्थिर संदर्भ तल की आवश्यकता है। प्रगतिशील परिशुद्धता लैपिंग के साथ, पूर्व {{6}खाली तनाव से राहत, पूर्ण {{7}प्रक्रिया मेट्रोलॉजी सत्यापन, प्रीमियम सूक्ष्म {{8}सतह गुणवत्ता और बड़े वर्कपीस के लिए एकीकृत लैपिंग के साथ, अद्वितीय ग्रेनाइट बेस समतलता विनिर्देशों को मूर्त प्रदर्शन में बदल देते हैं। वे उच्च अंत दृष्टि निरीक्षण उपकरणों की कठोर असेंबली और इमेजिंग आवश्यकताओं को पूरा करते हैं और सेमीकंडक्टर और पीसीबी उद्योगों में प्रीमियम एओआई के लिए विश्वसनीय बेंचमार्क वाहक प्रदान करते हैं।